MEC Industries stellt neues EOS-Überwachungssystem zur Vermeidung elektrostatisch bedingter Defekte vor 04.11.2026, 08:35 Uhr von dpa-AFX Jetzt kommentieren: 0

SEOUL, South Korea, Nov. 04, 2026 (GLOBE NEWSWIRE) -- MEC Industries stellt sein
neues EOS Monitoring System vor, das Elektronikherstellern dabei hilft, EOS-
/ESD-bedingte Defekte durch die kontinuierliche Überwachung elektrischer
Bedingungen in der Fertigung frühzeitig zu erkennen und zu vermeiden.
Elektrische Überbeanspruchung (Electrical Overstress, EOS) und elektrostatische
Entladung (Electrostatic Discharge, ESD) sind nach wie vor häufige Ursachen für
Produktausfälle entlang der gesamten Lieferkette der Elektronikfertigung. Trotz
jahrelanger Prozessverbesserungen melden inländische und internationale
Erstausrüster (OEMs) weiterhin EOS-/ESD-bedingte Defekte, die nicht auf eine
einzelne Fehlerquelle zurückzuführen sind, sondern auf uneinheitliche
Erdungsverhältnisse, instabile Wechselstrom-Leckspannungen und nicht überwachte
Gleichspannungs-Biasbedingungen in der gesamten Produktionsumgebung.
Gleichzeitig verlangen Kunden zunehmend objektive Nachweise - statt bloßer
Zusicherungen -, dass diese Risiken in der Fertigungsumgebung wirksam
kontrolliert werden. Dies gilt insbesondere, da Fehleranalysen zeigen, dass
viele Defekte erst während der Montage oder im späteren Feldeinsatz auftreten,
nachdem die Bauteile die Komponentenhersteller und Zulieferer verlassen haben.
Die Bewältigung dieser branchenweiten Herausforderung erfordert einen Wandel von
der reaktiven Fehlerbehebung hin zu einer kontinuierlichen, überprüfbaren
Überwachung. Genau diese Überwachungslücke soll das von MEC Industries
vorgestellte EOS Monitoring System schließen.
Das EOS Monitoring System ermöglicht die Echtzeitüberwachung der wichtigsten
elektrischen Parameter für eine ESD-sichere Fertigungsumgebung:
Erdungswiderstand der Anlagen, Wechselstrom-Leckspannung, anliegende
Gleichspannung, DC-Bias-Spannung und Isolationswiderstand. Alle Messwerte werden
kontinuierlich auf einem zentralen Server protokolliert, sodass
Qualitätssicherungsteams eine dauerhafte, überprüfbare Dokumentation der
Fertigungsbedingungen erhalten. Überschreitet ein Parameter seinen festgelegten
Grenzwert, löst das System sofort einen Alarm aus und kann in SPS-Steuerungen
(speicherprogrammierbare Steuerungen) integriert werden, um die betroffene
Produktionslinie automatisch anzuhalten. Dadurch wird verhindert, dass sich
Defekte weiter ausbreiten, anstatt sie erst im Nachhinein zu erkennen. Das
kompakte und einfach zu installierende System lässt sich an Beladern,
Schablonendruckern, Bestückungsautomaten, Reflow-Lötöfen und Förderanlagen
einsetzen und verwandelt jede Arbeitsstation in einen überwachten Kontrollpunkt.
Für Hersteller, die unter zunehmendem Druck stehen, anspruchsvollen Kunden die
Zuverlässigkeit ihrer Fertigungsprozesse nachzuweisen, liefert es
kontinuierliche, objektive und datengestützte Nachweise dafür, dass ESD-/EOS-
Risiken aktiv kontrolliert und nicht lediglich als beherrscht vorausgesetzt
werden. Durch die Kombination aus Echtzeiterkennung, automatisierter
Produktionsliniensteuerung und zentraler Datenerfassung stellt das EOS
Monitoring System einen bedeutenden Fortschritt beim Schutz der Produktqualität
an ihrem besonders kritischen Punkt dar - direkt in der Fertigung.
Mit dem EOS Monitoring System können Hersteller über die herkömmliche ESD-
Kontrolle hinausgehen und einen proaktiveren, datengestützten Ansatz zur
Qualitätssicherung verfolgen. Das System trägt zu einer zuverlässigeren
Produktion, einem geringeren Fehlerrisiko und einem insgesamt höheren Vertrauen
entlang der globalen Lieferkette der Elektronikfertigung bei.
MEC Industries
Seoul, Republik Korea
Tel.: +82-2-419-5020
E-Mail: mecind@mecind.co.kr (mailto:mecind@mecind.co.kr)
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