AEHR TEST SYSTEMS WKN: 908802 ISIN: US00760J1088 Forum: Aktien Thema: Hauptdiskussion

was hast du immer mit deiner 15:30 ?

US markt

das wissen wir doch das der US Markt dann öffnet......wir sind schön seeeehrrrr lange an der Börse.😁

Deine Einschätzung bitte 😀 wie weit kann es gehen?

.......lass dich überraschen 😃👍

Hauptsache der Kurs steigt weiter :-)

Der steht schon in den startlöchern...aehr System germany

Schade hätte mich über einen Neu-Kunden mehr gefreut

Squeeze liegt bei15.30

Wie hoch glaubt ihr.18-19??

Danke

https://www.accessnewswire.com/newsroom/en/industrial-and-manufacturing/major-hyperscaler-expands-ai-processor-production-capacity-with-additi-1064762

Jerome war dovish

Was passiert jetzt :-)

Aehr Test Systems nimmt am 26. August 2025 an der Jefferies Semiconductor, IT Hardware & Communications Technology Conference teil 21.08.2025 FREMONT, CA / ACCESS Newswire / 21. August 2025 / Aehr Test Systems (NASDAQ:AEHR), ein weltweiter Anbieter von Halbleitertest- und Burn-in-Geräten, gab heute seine Teilnahme an der Jefferies Semiconductor, IT Hardware & Communications Technology Conference bekannt, die vom 26. bis 27. August 2025 im Four Seasons Hotel in Chicago stattfindet. Präsident und CEO Gayn Erickson und CFO Chris Siu werden am Dienstag, den 26. August, ganztägig Investorengespräche führen. „Wir freuen uns darauf, mit Investoren und Aktionären unsere innovativen Wafer-Level-Test- und Packaged-Part-Burn-in-Lösungen für die Halbleiterproduktion und die vielfältigen Märkte, die sie bedienen, zu diskutieren“, sagte Herr Erickson. Dazu gehören unsere neuen Hochleistungs-Zuverlässigkeits-/Burn-in-Testlösungen für verpackte Bauteile aus der Übernahme von Incal Technology, die unseren adressierbaren Markt im schnell wachsenden Markt für Halbleiter für künstliche Intelligenz (KI) erweitern. Aehr Test bietet schlüsselfertige Komplettlösungen zur Verbesserung von Qualität, Zuverlässigkeit und Ausbeute von Halbleitern. Dazu gehören Siliziumkarbid-Bauelemente für Elektrofahrzeuge und Ladeinfrastruktur, Galliumnitrid-Bauelemente für vielfältige Leistungsumwandlungsanwendungen, Silizium-Photonik-Bauelemente für Rechenzentren und 5G-Infrastruktur, optische Ein-/Ausgabe- (I/O) und Co-Packaged-Optics-Bauelemente sowie KI-Prozessoren sowohl auf Waferebene als auch in Form von verpackten Bauteilen. Die zunehmende Akzeptanz von Waferebene-Tests und Burn-in-Tests für verpackte Bauteile für diese Bauelemente ist ein wichtiger Wachstumstreiber für Aehr Test.